食品開発展2010出展・同時セミナー開催のご案内

2010.09.13　食品開発展2010出展・同時セミナー開催のご案内

このたび弊社では、2010年10月13日（水）～2010年10月15日（金）に東京ビッグサイトで開催される「食品開発展2010」に出展することとなりました。
また、展示会の期間中には、遺伝子組換え農産物等の検査技術で世界的に有名なGenetic ID社のHeather Secrist博士によるセミナーを開催し、海外の食品表示偽装の現状や最新の分析技術について、事例を交えて講演致します（聴講無料）。
出展及び同時セミナー開催の概要について、下記の通りご案内致しますので、ぜひご参加ください。

食品開発展2010　出展概要

日時

2010年10月13日（水）～2010年10月15日（金）　10:00-17:00

場所

東京ビッグサイト　東4.5.6ホール　安全・衛生ゾーン

ブースNo.

1-232

出展内容

遺伝子分析・おいしさ分析・同位体分析等の各種分析サービスと検査キット、JAS認定・CERT ID認定等の認定業務

ご来場方法

事前登録もしくは招待券により入場は無料となります。詳しくは食品開発展2010のホームページをご参照ください。

申込方法

申込不要

セミナー開催概要

プレゼンテーションセミナー

日時：2010年10月14日（木）　12:30-12:50
場所：食品開発展内　C会場
タイトル：海外の食品表示偽装の現状とその対応策の展望
聴講：無料
申込方法：申込不要

併設セミナー

日時：2010年10月15日（金）　13:30-16:00
場所：東京ビッグサイト　会議棟１０２号室
タイトル：食品表示・検証のための分析技術とトレーサビリティ
講演者：Heather Secrist博士（Genetic ID NA. Inc, CEO）
聴講：無料
申込方法：セミナー参加申込書にてお申し込みください

皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。