2010.06.21　表示・起源分析技術研究懇談会 第3回講演会　出展のお知らせ

日本認証サービス株式会社は、表示・起源分析技術研究懇談会 第3回講演会に出展し、同位体分析を用いた化成品原料判別技術の口頭発表、及び企業展示を行いますので、下記の通りお知らせ致します。

日程：2010年7月1日（木）～2日（金）
場所：首都大学東京　南大沢キャンパス　6号館
発表タイトル：安定同位体比分析の化成品原料判別への応用
発表者：日本認証サービス株式会社　分析事業部　理学博士　鈴木 彌生子

企業展示では、同位体分析を用いた産地判別技術の他、遺伝子分析、理化学分析等の各種検査、また迅速性・収量・純度に優れたDNA抽出キット(FAST ID)もご紹介させていただく予定です。

講演会の詳細については、表示・起源分析技術研究懇談会　第3回講演会のホームページをご参照ください。
皆様のご来場を心よりお待ち申し上げております。